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Coupler综合测试系统

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产品功能介绍

1. 一次接线,同时进行全带宽扫描测试和单点IL,PDL,RL,DIR测试,支持高低温测试.

2. 一拖四共享宽带光源和OSA光谱分析仪,节约硬件成本。

3. 兼容1X2, 2X2, 1X4 Coupler产品和WDM器件测试,自动测试并计算IL、WDL、PDL、RL、DIR、UL、TDL等参数。

4. 自动判定测试结果;所有数据通过SQL Server数据库海量保存,自动批量生成出货报表。

测试界面示意图

image.png

系统性能指标

参数 

指标 

单位 Unit

最小值 

典型值 

最大值 

工作波长 

1260


1620

nm

测试指标 

ITU IL/Min IL/Max IL/WDL/Ripple/TDL等参数   


插损(IL)不确定度

 

±0.05(光纤熔接测试) 

dB

±0.1(连接头测试) 

测量模式 

OSW扫描
 


单通道扫描时间 

6-8(AQ6370,1250~1650nm,步距/step 0.1nm)

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