高速扫描光功率计
高速扫描光功率计
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设备功能介绍 Key Features
１、高速PD探测器，采样周期可达到微秒量级，更快速地采集和处理数据。
2、测试深度达到-80dBm， 更方便测试器件模块的隔离度。
3、具有高速采样的特点，并且外形小巧，可带外置探头适用于在工作台上直接操作。
4、应用于高精密波分复用DWDM元件，AWG/PLC元件和其他通用的光纤的光学测量用。
设备性能指标 Key Performance
上一个：
八通道高速扫描光功率计
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Santec光功率计
