Santec扫描测试系统
Santec扫描测试系统
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设备功能介绍 Key Features
1、 系统由santec可调谐光源+santec偏振控制器+santec功率计组成。
2、 算法基于santec官方算法，二次开发实现多工位测试、分析数据及测报生成等功能。
3、 支持不同类型的光学产品测试，如WDM、AWG、PLC、Z-Block等。
设备性能指标 Key Performance
上一个：
WDM综合测试系统
下一个：
DWDM/AWG并行扫描一拖四测试系统
