CWDM4/LWDM扫描测试系统

无源解决方案 > CWDM4/LWDM扫描测试系统 > CWDM4/LWDM扫描测试系统

CWDM4/LWDM扫描测试系统

分享到:

功能介绍

1. 支持Bar条测试,可与自动化耦合握手,耦合对光完成之后自动进行扫描测试。

2. 支持不同类型的CWDM4(MUX和DEMUX)以及100G Lan WDM器件的扫描和全3、带宽的PDL测试,参数设置灵活,界面可视化、操作非常简便。

3. 支持多工位对可调光源进行实时并行共享扫描测试,工位互不干扰,无需排队等待(行业首创,百分百验证并有多家客户成功案例,每个工位扫描时间相同,并且申请了专利)。

4. 自动计算ITU IL、Min IL、Max IL、IL uniformity、Ripple、PDL、通道带宽和中心波长(1dB,3dB等)、Isolation、Slope、Crosstalk等参数。

5. 自动分析计算各种所需的测试参数结果和自动判定测试结果。

6. 失效参数自动区分并标识,使失效数据一目了然。

7. 系统软件兼容各种可调光源(Agilent,santec,uc等)和各种带trigger功能的功率计。

测试界面示意图

image.png

系统性能指标  

参数

指标

单位

最小值 

典型值 

最大值 

工作波长

1260


1360

nm

测试指标

IL/RIPPLE/PDL/ADJ/NADJ/CWL/BW/TDL/CROSSTALK


插  损

±0.1(连接头测试)

db

不确定度

±0.1 (connector test)

测量模式

可 调光源+高速功率计


可测产品类型

CWDM4(MUX/DEMUX),LAN-WDM,AWG



深圳光泰通信设备有限公司